Измерение абсолютного отражения без использования эталонов отражения благодаря уникальной оптической схеме V/W.
Приставка для измерения абсолютного отражения не требует использования эталонов отражения благодаря уникальной оптической схеме V/W.
Луч в положении V отражается от эталонного зеркала. В положении W он дважды отражается от образца и от того же эталонного зеркала. Абсолютный коэффициент отражения образца в этом случае равен квадратному корню из измеренного значения при заданном волновом числе или длине волны. Выбор одной из двух конфигураций осуществляется поворотом держателя образца на 180 градусов.